
Produktionsdatenanalyse mit Qualitätsregelkarte
key2analyze ist eine Standard-Qualitätsregelkarte für den Produktionsprozess mit den Kernfunktionen
- Moderne, einfache Regelkartenverwaltung
- Gruppierung von Regelkarten zu Projekten, Nutzergruppen etc.
- Zuordnung von Prozesswertänderungen zu Regelkarten
- Private und öffentliche Regelkarten
- Filtermechanismen für Regelkarten und Prozesswerte
- Konfigurierbarer Min/Max-Wert pro Regelkarte zur Toleranzprüfung
- Umschaltbare Regelkartendarstellungen
- Regelkartendarstellung mit gleichmäßiger Verteilung
- Zeitfolgerichtige Darstellung der Punkte
- Produktbasierte oder zeitbasierte X-Achse
- Visualisierung der Prozesswertänderungen
- Häufigkeitsverteilung mit einstellbarer Wertebereichsanzahl
- Ein-/Ausblenden von Mittelwert, Warngrenzen, Eingriffsgrenzen, Min/Max und Gitterlinien
- Anwendung der „Western Electric" und der „Nelson" Standardregeln
- Automatische Prüfung der Regeln im Scheduler einstellbar
- Bedarfsorientierte manuelle Prüfung
- Übersicht der Regelkarten mit Priorität der Regelverletzung
- Farbige Darstellung der Regelverletzung
- Ein-und Ausblenden der Prüfregeln
- Einstellbarer Verdichtungsfaktor
- Einstellbare Werteanzahl
- Tooltips mit Details zu jedem Prozesswert und den Regelverletzungen
- Export der Regelkarte in Microsoft Word als Nachweisdokument
key2analyze hilft Produktionsunternehmen durch...
- schnellere und einfachere Überwachung der Qualität
- standardisiertes Analysieren
- schnelles Erkennen von Trends und Qualitätsproblemen
- vereinfachtes Nachweisen der geforderten Produktqualität
- verringerte Analysekosten
...und verbessert damit nachhaltig die Produktqualität!

Prüfregeln mit einstellbarem K-Faktor:
1. 1 Punkt > K Sigma
2. K aufeinanderfolgende Punkte auf der gleichen Seite der Mittellinie
3. K aufeinanderfolgende Punkte, alle zu- oder abnehmend
4. K aufeinanderfolgende Punkte, abwechselnd auf- und abwärts
5. K von K+1 Punkten >2 Sigma (gleiche Seite)
6. K von K+1 Punkten >1 Sigma (gleiche Seite)
7. K aufeinanderfolgende Punkte innerhalb 1 Sigma (beide Seiten)
8. K aufeinanderfolgende Punkte >1 Sigma (beide Seiten)

